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Wild, Cheryl: Heart Defects in Children
Erscheinungsdatum: 10.11.1998, Medium: Taschenbuch, Einband: Kartoniert / Broschiert, Titel: Heart Defects in Children, Titelzusatz: What Every Parent Should Know, Autor: Wild, Cheryl // Wild // Wild, C., Verlag: John Wiley & Sons, Sprache: Englisch, Schlagworte: FAMILY & RELATIONSHIPS // Children with Special Needs // Entwicklungspsychologie, Rubrik: Erziehung // Bildung, Erziehungsratgeber, Seiten: 156, Informationen: Paperback, Gewicht: 206 gr, Verkäufer: averdo- Shop: averdo
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Ghorai:Study of point defects in solids
Erscheinungsdatum: 01/2012, Medium: Taschenbuch, Einband: Kartoniert / Broschiert, Titel: Study of point defects in solids and thin films, Titelzusatz: Defect and diffusion study in FCC metals and dilute alloys, Autor: Ghorai, Amitava, Verlag: LAP Lambert Academic Publishing, Sprache: Englisch, Rubrik: Physik // Astronomie, Sonstiges, Seiten: 248, Informationen: Paperback, Gewicht: 386 gr, Verkäufer: averdo- Shop: averdo
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Redfield, David: Photo-induced Defects in Semiconductors
Erscheinungsdatum: 07.01.2016, Medium: Buch, Einband: Gebunden, Titel: Photo-induced Defects in Semiconductors, Autor: Redfield, David // Bube, Richard H., Verlag: Cambridge University Press, Sprache: Englisch, Schlagworte: SCIENCE // Physics // Condensed Matter, Rubrik: Atomphysik // Kernphysik, Seiten: 230, Informationen: HC gerader Rücken kaschiert, Gewicht: 512 gr, Verkäufer: averdo- Shop: averdo
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Holt, D. B.: Extended Defects in Semiconductors
Erscheinungsdatum: 30.03.2016, Medium: Buch, Einband: Gebunden, Titel: Extended Defects in Semiconductors, Autor: Holt, D. B. // Yacobi, B. G., Verlag: Cambridge University Press, Sprache: Englisch, Schlagworte: SCIENCE // Physics // Electricity, Rubrik: Elektrizität // Magnetismus, Optik, Seiten: 644, Informationen: HC gerader Rücken kaschiert, Gewicht: 1275 gr, Verkäufer: averdo- Shop: averdo
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Holt, D. B.: Extended Defects in Semiconductors
Erscheinungsdatum: 25.03.2014, Medium: Taschenbuch, Einband: Kartoniert / Broschiert, Titel: Extended Defects in Semiconductors, Titelzusatz: Electronic Properties, Device Effects and Structures, Autor: Holt, D. B. // Yacobi, B. G., Verlag: Cambridge University Press, Sprache: Englisch, Schlagworte: SCIENCE // Physics // General, Rubrik: Physik // Astronomie, Allgemeines, Lexika, Seiten: 644, Informationen: Paperback, Gewicht: 1094 gr, Verkäufer: averdo- Shop: averdo
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Nelson, David R.: Defects and Geometry in Condensed Matter Physics
Erscheinungsdatum: 30.04.2010, Medium: Taschenbuch, Einband: Kartoniert / Broschiert, Titel: Defects and Geometry in Condensed Matter Physics, Autor: Nelson, David R., Verlag: Cambridge University Press, Sprache: Englisch, Schlagworte: SCIENCE // Physics // Condensed Matter, Rubrik: Physik // Astronomie, Seiten: 392, Informationen: Paperback, Gewicht: 675 gr, Verkäufer: averdo- Shop: averdo
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Nelson, David R.: Defects and Geometry in Condensed Matter Physics
Erscheinungsdatum: 18.01.2012, Medium: Buch, Einband: Gebunden, Titel: Defects and Geometry in Condensed Matter Physics, Autor: Nelson, David R., Verlag: Cambridge University Press, Sprache: Englisch, Schlagworte: SCIENCE // Physics // Condensed Matter, Rubrik: Atomphysik // Kernphysik, Seiten: 392, Informationen: HC gerader Rücken kaschiert, Gewicht: 856 gr, Verkäufer: averdo- Shop: averdo
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Defects and Impurities in Silicon Materials
Erscheinungsdatum: 04/2016, Medium: Taschenbuch, Einband: Kartoniert / Broschiert, Titel: Defects and Impurities in Silicon Materials, Titelzusatz: An Introduction to Atomic-Level Silicon Engineering, Redaktion: Yoshida, Yutaka // Langouche, Guido, Verlag: Springer-Verlag GmbH // Springer Tokyo, Sprache: Englisch, Schlagworte: Festkörperphysik // Elektronik // Halbleiter // Leitung // physikalisch // Nanotechnologie // Technologie // Chemie // Massenspektrometrie // Spektrometrie // Spektroskopie // Technik // Werkstoffe // Berufe // Industrie // Fertigungstechnik // Materialwissenschaft // Elektrogerät // Gerät // TECHNOLOGY & ENGINEERING // Electronics // Semiconductors // Spektrochemie // Andere Fertigungsverfahren // Elektronische Geräte und Materialien, Rubrik: Elektronik // Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, Seiten: 487, Abbildungen: 100 schwarz-weiße Abbildungen, 20 schwarz-weiße Tabellen, Bibliographie, Herkunft: NIEDERLANDE (NL), Reihe: Lecture Notes in Physics (Nr. 916), Informationen: Book, Gewicht: 723 gr, Verkäufer: averdo- Shop: averdo
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plustek OpticFilm 8200i Ai Diascanner
Der Diascanner OpticFilm 8200i Ai besticht vor allem durch seine optimierte Hardwareanpassung an die neue im Lieferumfang enthaltene SilverFast Software. Der Diascanner richtet sich mit seiner HighEnd-Software SilverFast Ai Studio 8 direkt an Fotografen und Profis als auch an ambitionierte Foto-Amateure. Dabei wartet er mit äußerst nützlichen Features auf. Ein spezieller Infrarotkanal iSRD (Infrared Smart Removal of Defects) erlaubt die vollautomatische Erkennung von Staubkörnern, Kratzern und anderen Schädigungen auf der Vorlage. In Verbindung mit der professionellen Bildbearbeitungssoftware SilverFast Ai Studio 8 ist das Beseitigen von Bildstörungen dank des neuen Workflow Pilot noch einfacher und wesentlich genauer. Der Pilot führt Sie durch die einzelnen Korrekturschritte und gibt Ihnen hilfreiche Anweisungen bei der Nutzung der Software. Dank des neuen Vorschaumodus können Korrekturen und Änderungen bereits in der Preview sichtbar gemacht werden. Gegenüber rein softwarebasierten Lösungen zeichnet sich die iSRD-Lösung durch eine unerreicht hohe Trefferquote aus. Hinzu kommt die einzigartige Multi-Exposure-Technologie, die nicht nur das Bildrauschen unterdrückt, sondern auch den Dynamikumfang des Bildes stark verbessert. So kommen selbst kleinste Bilddetails zur Geltung.- Shop: office discount
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